• Par rapport aux systèmes d’opacité, les systèmes DynamicOpacity™ sont beaucoup moins sensibles aux erreurs causées par la contamination des lentilles. En pratique, cela signifie qu’ils nécessitent beaucoup moins de maintenance des instruments et des systèmes de purge d’air plus petits.
• Grâce à son algorithme ratiométrique, DynamicOpacity™ est beaucoup moins sujet au désalignement.
• Par rapport à d’autres systèmes d’opacité ratiométriques, les instruments utilisent une largeur de bande de fréquence optimisée qui améliore la qualité de la mesure de la poussière et la rend suffisamment précise pour obtenir les approbations TUV et MCERTS.

Les instruments DynamicOpacity™ d’ENVEA sont disponibles avec une gamme complète de caractéristiques et d’options d’assurance qualité, dont certaines sont uniques et brevetées par la société :

• Vérifications électroniques automatiques du zéro et de l’échelle de l’opacité en faisant varier l’intensité lumineuse dans la tête de l’émetteur.
• Vérifications électroniques automatiques du zéro et de l’échelle DynamicOpacity™, pour tester le comptage des scintillations à zéro et à pleine échelle.
• Unité d’audit électronique externe portative en option pour les contrôles du zéro et de la linéarité
• Contrôle des communications, pour vérifier que l’unité de contrôle communique correctement avec le(s) capteur(s) et lit les relevés d’opacité dynamique de ce(s) dernier(s).